X熒光射線測厚儀XDLM237核心功能：

適用于薄涂層的無損厚度測量和分析，包括低濃度涂層。

可對批量生產(chǎn)的零件和印刷電路板進(jìn)行自動(dòng)測量。

能無標(biāo)準(zhǔn)地分析涂層系統(tǒng)以及固體和液體樣品（使用費(fèi)舍爾基本參數(shù)法）。

可同時(shí)檢測從氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)的多達(dá) 24 種元素。

X熒光射線測厚儀XDLM237性能優(yōu)勢：

采用比例計(jì)數(shù)管實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，保證測量精確性。

孔徑和初級(jí)濾波器可電動(dòng)更換，能為每次測量創(chuàng)造最佳條件。

具有出色的長期穩(wěn)定性，顯著減少校準(zhǔn)工作。

配備快速、可編程的 X/Y 載物臺(tái)，適合自動(dòng)樣品測量

應(yīng)用領(lǐng)域

量產(chǎn)零件的測量

檢測具有小測量點(diǎn)的薄涂層

電子和半導(dǎo)體行業(yè)中功能涂層的分析

印刷電路板等的自動(dòng)測量